Режим динамического тестирования программируемой электронной нагрузки серии SEL позволяет нагрузке многократно переключаться между двумя токами или напряжениями нагрузки. Эту функцию можно использовать для проверки динамических характеристик источника питания.
Режим динамического тестирования можно включить или отключить с помощью клавиши на передней панели (Shift+Tran). Перед операцией динамического тестирования сначала следует установить соответствующие параметры операции динамического тестирования (Shift+S-Tran). Эти параметры включают в себя значение, время длительности импульса, время нарастания A до B, значение B, время длительности импульса значения B, время спада B до времени спадающего фронта и режим динамического тестирования.
1. Режим непрерывной работы
В непрерывном режиме нагрузка будет периодически переключаться между значением A и значением B при включении режима динамического тестирования.
Рисунок 1 Режим непрерывной работы
2. Импульсный режим работы
В импульсном режиме работы, когда включается режим динамического тестирования, нагрузка переключается на значение B при получении одного триггерного сигнала, принимает время одного импульса (TWD) от значения B, нагрузка возвращается к значению A.
Рис. 2. Импульсный режим работы
3. Режим работы триггера
В режиме запуска, когда включена операция динамического тестирования, электронная нагрузка переключит состояние между значением A и значением B после получения сигнала запуска.
Рисунок 3 Режим работы триггера
Программируемая электронная нагрузка постоянного тока серии Saluki SEL - это продукт нового поколения, разработанный компанией Saluki Technology. Он имеет широкое применение - от производственных линий для зарядных устройств сотовых телефонов, аккумуляторов сотовых телефонов, электронных автомобильных аккумуляторов, импульсных источников питания, линейных источников питания и светодиодных драйверов до научно-исследовательских институтов, автомобильной электроники, авиации и астронавтики, судоходства, солнечных и топливных элементов и т.д. Приложений для тестирования и измерений.
