Серия SKX - это интегрированная и высокоэффективная полуавтоматическая платформа для зондирования пластин, которая специализируется на тестировании производительности различных современных чипов. Он объединяет различные функции, такие как электрическая световая волна, микроволновая печь и т.д. В настоящее время он обладает самой высокой температурной шириной и точностью тестирования в отрасли и может соответствовать различным условиям применения для тестирования, обеспечивая надежность тестирования пластин в широком диапазоне температур от -60 до 300 градусов.
Направление применения:
Профессиональное оборудование имеет дело с 12 “8” 6“ пластинами Si / GaN / SiC и другими видами устройств для расширенного тестирования производительности чипа, может быть оснащено соответствующими приборами и измерителями, для определения характера радиочастотного сигнала I – V C – V light, такими как анализ шума 1 / f, многофункциональные устройства, масштабируемый высокомощный тест вафли RF test автоматический тест, и может загружать систему контроля температуры, удовлетворять требованиям заказчика в условиях высокой и низкой температуры всех видов требований к тестированию производительности вафельного устройства.
***Индивидуальные дизайнерские решения для особых размеров или характеристик возможны по запросу ***
