Испытательный стенд серии SFA - это разновидность измерительного оборудования, специально разработанного для лабораторий анализа отказов. Он обладает оптическими характеристиками, лазерными характеристиками, стабильной структурой оборудования, отличной производительностью системы, эргономичным дизайном, удобным управлением, поддержкой многофункционального обновления, а также богатыми и полными функциями продукта.
Направление применения:
Анализ неисправностей микросхемы при комнатной температуре, а также при высоких и низких температурах Анализ неисправностей радиочастотного устройства Проверка характеристик материала/устройства IV/CV и анализ неисправностей Проверка внутренней схемы микросхемы/электрода/контактной площадки Модификация внутренней схемы микросхемы/панели/удаление слоя.
